101. Electron Microscopy in diagnostic virology:A Practical Guide and atlas
پدیدآورنده: / Frances W.Doane ,Nan Anderson
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم پزشكی كاشان (اصفهان)
موضوع: Microscopy,Electron-methods-atlases,Viruses-altars,tracture-atlases
102. Electron Microscopy of Polymers
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکز تحقیقات بیوشیمی- بیوفیزیک دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Polymers--Optical properties.,Polymers--Microscopy.,Electron microscopy.
رده :
QD
381
.
9
.
O66
M53
2008
103. Electron Microscopy. principles and technics for biologists
پدیدآورنده: Bozzola,John J.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع: ، electron microscopy
رده :
QH
212
E4E354
1999
104. Electron and ion microscopy and microanalysis: Principles and applications
پدیدآورنده: / by Lawrence E. Murr
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Electron microscopy,Field ion microscopy,Microphobe analysis
رده :
QH212
.
E4M877
1991
105. Electron and ion microscopy and microanalysis: principles and applications
پدیدآورنده: Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: ، Electron microscopy,، Field ion microscopy,، Microphobe analysis
رده :
QH
212
.
E4
M87
1991
106. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده : edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, and Brent L. Adams
موضوع : ، Materials, Microscopy,، Scanning electron microscopy,، Crystallography
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
107. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه اراک (مرکزی)
موضوع: Materials -- Microscopy,Electrons -- Backscattering,Electrons -- Diffraction,Scanning electron microscopy
رده :
620
.
11299
E38
108. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده: / Adam J. Schwartz ... [et al.], eds
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials--Microscopy,Scanning electron microscopy.,Crystallography.,Elektronenbeugung.--swd,Kristallographie.--swd,Reuckstreuung.--swd
رده :
TA
,
417
.
23
,.
E419
,
2009
109. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده: / Adam J. Schwartz ... [et al.], eds
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Materials -- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography,Elektronenbeugung,Kristallographie.,Rèuckstreuung.
رده :
TA
417
.
23
.
E419
2009
110. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Materials ; Microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Crystallography. ; Elektronenbeugung. ; swd. ; Kristallographie. ; swd. ; R?ckstreuung. ; swd. ;
111. Electron backscatter diffraction in materials science
پدیدآورنده:
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Materials- Microscopy,Scanning electron microscopy,Crystallography
رده :
TA417
.
23
.
E419
2000
112. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Materials - Analysis , Electron beams - Industrial applications , Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
113. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
114. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: / M.H. Loretto
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applictions,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
115. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: / M.H. Loretto
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Materials- Analysis,Electron beams- Industrial applications,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
L67
1994
116. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Materials- Analysis,، Electron beams- Industrial applications,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
117. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده: Loretto, M. H.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Analysis ، Materials,Industrial applications ، Electron beams,، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
L67
1994
118. Electron beam analysis of materials
پدیدآورنده : Loretto, M. H.
موضوع : ، Materials-- Analysis,، Electron beams-- Industrial applications,، Electron microscopy
۶ نسخه از این کتاب در ۵ کتابخانه موجود است.
119. Electron beam microanalysis
پدیدآورنده: Beaman, Donald Robert.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع: ، Microchemistry,، Electron probe microanalysis,، Electron microscopy
رده :
QD
98
.
B32
1972
120. Electron beam microanalysis
پدیدآورنده: Beaman, Donald Robert.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Microchemistry,، Electron probe microanalysis,، Electron microscopy
رده :
QD
98
.
B32
